1. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده : / edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Quality control--Optical methods,Optical detectors--Industrial applications,Microelectronics.
رده :
TS156
.
2
.
O652
2007
2. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده : edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، Quality control -- Optical methods,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O67
3. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده : edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Optical methods ، Quality control,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O652
2007
4. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Quality control ; Optical methods ; Optical detectors ; Industrial applications ; Microelectronics ;
5. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده : edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : Optical methods ، Quality control,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O652
